除了传统的X涉嫌衍射发以外，近年来电子晶体学的广泛应用为分子筛材料的结构解析注入了新的活力。
宇X射线衍射相比，电子衍射数据的收集更困难，衍射强度的观测也很不精确，因此很难单独用电子衍射
数据来进行晶体结构解析，但同时电子衍射具有X射线衍射所无法比拟的优势，如对样品尺寸要求小，不
存在衍射重叠等，更为重要的是，以高分辨投射电子显微镜为代表的电子晶体学技术能够观测到X射线衍
射中无法观测的衍射相角。